ZSX Primus Ⅳ+熒光光譜儀概述：
X射線熒光光譜儀的分析裝置具備支持測定、解析的“ZSX Guidance"，即使是初學者也能簡單地得到正確的分析結果。通過數字計數系統、高速驅動的測距計、優化的控制系統，實現高速、高精度測量。通過人工多層累積膜和真空控制機構也可以進行超輕元素測量。這是一款搭載了防人類錯誤功能等安心、安全設計、點映射分析和散射線SQX功能的高規格機型。
采用了可以放心進行例程分析的上表面照射方式。即使粉末樣品中的粉末飛散，也不會對光學系統產生影響。為了保護樣品，不需要膠卷。
X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀特性：
1、定量應用程序自動設置功能
只需輸入標準樣品的標準值和樣品信息，即可自動設定分析線、光學系統的設定、共存元素校正、重疊校正，初學者也可輕松保存校準線。
2、用于膜厚、附著量分析的測量線檢索、分析評價程序
可以得到精度分析的分析線的組合、分析線的分析深度信息、上層吸收比例的模擬結果和干擾線的信息。
3、操作性“輕松分析"
通過匯總日常例程分析所需操作的“輕松分析"，可簡單調用一系列分析設置，或將頻繁使用的應用程序注冊到“收藏"中。
4、快速分析
通過對樣品的高速搬運、高速驅動的計算器、高速數據處理、高效的各驅動部的控制，提高了吞吐量。定性分析時間約為40%，定量分析可縮短約20%（與本公司相比），每單位時間可增加樣品處理數量。
5、高精度測量
X射線計數系統采用數字多通道分析器（D-MCA）。通過高速數字處理實現了高計數率范圍內的計數線性，提高了分析精度。大計數率（計數線性1%）：SC 1800 kcps、FPC3000kcps
6、防止人為錯誤
您可以為每個操作人員設置訪問軟件的級別。這樣就可以防止由于新手操作失誤而導致的數據庫變更和刪除。程序菜單的顯示和隱藏設置可以根據用戶級別仔細選擇，防止人為錯誤。
7、WDX系統中的點映射分析
配備了高分辨率照相機，可以清晰地顯示樣品整體圖像中部分的放大圖像。這樣，即使在微細區域也能正確位置。另外，通過r-θ樣品階段，可以以相同的靈敏度測量所有測量位置，因此可以進行正確的分析。
X射線熒光光譜儀
